ToupTek – obiektywy multispektralne machine vision (SWIR i UV)

Profesjonalne obiektywy multispektralne ToupTek pokrywają pasma poza światłem widzialnym – SWIR (900–1700 nm) i UV (200–1000 nm), a także serię importowaną Computar VSW (400–1700 nm). Wysokiej rozdzielczości konstrukcja optyczna i powłoki szerokopasmowe zapewniają wysoką jakość obrazu dla matryc o dużej rozdzielczości.

Po co obiektyw dedykowany SWIR / UV?

Zwykłe obiektywy projektowane są pod światło widzialne i poza nim tracą ostrość oraz transmisję. Obiektywy SWIR/UV mają dobraną optykę i powłoki dla swojego pasma, co warunkuje poprawne obrazowanie w kamerach SWIR i UV – m.in. przy prześwietlaniu krzemu, kontroli żywności czy detekcji UV.

Kluczowe cechy

  • Pasma SWIR 900–1700 nm i UV 200–1000 nm
  • Serie 2/3″, 1″, 4/3″ SWIR; UV C/F-mount
  • Importowana seria Computar VSW (400–1700 nm, apochromatyczna)
  • Wysoka rozdzielczość (do 100 lp/mm), niska dystorsja
  • Powłoki szerokopasmowe, mocowanie C / F
  • Szeroki wybór ogniskowych (5–85 mm)

Specyfikacja techniczna

PasmaSWIR 900–1700 nm; UV 200–1000 nm; VSW 400–1700 nm
Serie2/3″, 1″, 28 mm, 4/3″ SWIR; UV; Computar VSW
Ogniskowe5–85 mm (wg serii)
Rozdzielczośćdo 100 lp/mm
MocowanieC / F
Powłokiszerokopasmowe wielowarstwowe

Zastosowania

  • Inspekcja półprzewodników (SWIR)
  • Kontrola żywności i wilgotności
  • Detekcja UV i fluorescencja
  • Analiza materiałów i sortowanie

Zapytanie ofertowe i konfiguracja

Systemy, obiektywy i adaptery ToupTek dobieramy do mikroskopu/kamery i zadania. Skontaktuj się z Interlab, aby otrzymać wycenę i dobór konfiguracji.

Pobierz materiały kliknij aby rozwinąć

📄 Katalog Enhanced Imaging (ToupTek)

Zainteresowany produktem?

Skontaktuj się z nami, aby uzyskać szczegółową ofertę i doradztwo techniczne.

Zapytaj o produkt

Produkt: ToupTek – obiektywy multispektralne machine vision (SWIR i UV)