Yokogawa AQ6374

Szerokopasmowy optyczny analizator widma AQ6374 obejmuje długości fal od 350 do 1750 nm, w tym światła widzialne (380 do 780 nm) i długości fal telekomunikacyjnych.

Zakres długości fali: od 350 do 1750nm
Doskonała dokładność: ±0.05nm
Wysoka rozdzielczość: 0.05 to 10 nm
Szeroki zakres dynamiki: 60dB
Szybki pomiar: 0.5 sec.

Światowa klasa optyczna:

Zakres długości fali: od 350 do 1750nm
Doskonała dokładność: ±0.05nm
Wysoka rozdzielczość: 0.05 to 10 nm
Szeroki zakres dynamiki: 60dB (peak ±1.0nm)
Szeroki zakres poziomów: +20 to -80dBm
Szybki pomiar: 0.5 sec. (100nm span)

Pasmo		Telekomunikacyjne		VIS	VIS & Telekomunikacyjne	exNIR	MWIR	MWIR
Model		AQ6370D-12	AQ6370D-22	AQ6373B	AQ6374	AQ6375B	AQ6376	AQ6377

Zakres długości fali		600-1700nm		350-1200nm	350-1750nm	1200 nm-2400nm	1500nm-3400nm	1900 nm-5500nm
Zastosowanie		Ogólne zastosowania, telekomunikacja		Bio-Fotonika	Ogólne zastosowania, telekomunikacja, bio-fotonika	Monitorowanie środowiska, wykrywanie gazów	Monitorowanie środowiska, wykrywanie gazów	Monitorowanie środowiska, wykrywanie gazów
Aplikowalne włókna		SM, GI50, GI62.5 włókna z dużym rdzeniem do 200µm		SM, GI50, GI62.5 Włókna z dużym rdzeniem do 800µm	SM, GI50, GI62.5 Włókna z dużym rdzeniem do 800µm	SM, GI50, GI62.5	SM, GI50, GI62.5	SM, Włókna z dużym rdzeniem do 400µm
Ustawienie rozdzielczości długości fali (nm)	Min	0.02		0.01	0.05	0.05	0.1	0.2
	Max	2		10	10	2	2	5
Dokładność długości fali (nm)		±0.1 (Cały zakres) ±0.04 (1450 do 1520 nm)		±0.2 (Cały zakres) +/-0.05 nm (633 nm)	±0.2 (Cały zakres) ±0.05 (633 nm) ±0.05 (1523 nm)	±0.5 (Cały zakres) ±0.05(1520 do 1580nm) ±0.1(1580 do 1620nm)	±0.5 (Cały zakres)	±0.5 (Cały zakres)
		+/-0.02 nm(1580 do 1620nm)	+/-0.01 nm (1580 do 1620 nm)
Maksymalna czułość		-90dBm (1300 do 1620nm)		-80dBm(500 do 1000nm)	-80dBm(900 do 1600nm)	-70dBm(1800 do 2200nm)	-65dBm(1500 do 2200nm)	-60dBm(2900 do 4500nm)

Ustawienia rozdzielczości długości fali:

Dostępne są ustawienia rozdzielczości 8 długości fali: od 0,05 do 10 nm aby umożliwić użytkownikowi wybór najlepszej wartości przeznaczone do testowania urządzenia / systemu.

Mierzalny zakres poziomu:

Szeroki zakres mierzalnego poziomu wynosi od -80 do +20 dBm. Jest to odpowiednie do pomiaru dużej mocy, a także źródeł małej mocy używanych w różnych obszarach zastosowań.

Dokładność długości fali:

Dokładność długości fali ± 0,05 nm może być utrzymywana przez kalibrację za pomocą wbudowanego źródła światła referencyjnego lub zewnętrznego źródła światła, w tym lasera HeNe i źródła światła argonowego.

Szybki pomiar:

Instrument zajmuje tylko 0,5 s dla zakresu 100 nm (z czułością ustawioną na NORM_AUTO).

Częstotlisość próbkowania 100001:

Liczba próbek długości fali została podwojona. Jeden zakres może mierzyć szerszy zakres długości fal w wysokiej rozdzielczości.

Obsługa myszy i klawiatury:

Ponad 30 lat informacji zwrotnych od użytkowników umożliwiło intuicyjną i łatwą obsługę przedniego panelu. Funkcje myszy ułatwiają nawigację, a klawiatura pomaga wprowadzać cyfry i nazwy plików.

Śledzenie powiększania:

Zmień warunki wyświetlania, takie jak środkowa długość fali i zakres, klikając i przeciągając myszą.
Zwiększyć obszar zainteresowania natychmiast i przenieść go do woli.
Nie ma potrzeby dokonywania kolejnego pomiaru w celu modyfikacji warunków wyświetlania.

Obliczanie i analiza śladów:

Siedem indywidualnych programów

Jednoczesny obraz wielościeżkowy
Obliczanie między śladami (odejmowanie między śladami)
Funkcja zatrzymania Max / Min

Porty USB

Cztery porty USB dostępne z przodu iz tyłu ułatwiają korzystanie z urządzeń zewnętrznych, takich jak mysz, klawiatura, zewnętrzne dyski twarde i karty pamięci.

Tryb All-at once

Funkcja oszczędzająca czas, która umożliwia zapisanie wszystkich siedmiu śladów w jednym pliku naraz. Pliki są zapisywane w formacie CSV i można je łatwo manipulować za pomocą oprogramowania aplikacji na komputerze.