ToupTek MAX (Sony) – wielkoformatowa kamera sCMOS 24–251 MP (Sony Exmor) do obrazowania ultrawysokiej rozdzielczości

Name: ToupTek MAX (Sony) – wielkoformatowa kamera sCMOS 24–251 MP (Sony Exmor) do obrazowania ultrawysokiej rozdzielczości
Brand: ToupTek
SKU: 16117

ToupTek MAX (Sony) to wielkoformatowe kamery sCMOS oparte na sensorach Sony Exmor (IMX811/411/461/455/410), pokrywające rozdzielczości od 24 do 251 MP (full-frame i format średni). Głębokie chłodzenie TEC z pętlą sprzężenia (ΔT≈40°C) i konstrukcja antyroszeniowa utrzymują niski prąd ciemny przy długiej ekspozycji.

Czym jest wielkoformatowa kamera sCMOS MAX (Sony)?

Wielkoformatowe matryce Sony Exmor pozwalają rejestrować ogromne pola widzenia w jednym ujęciu, bez sklejania kadrów. Interfejsy 10GigE/USB3.0 i wbudowany bufor zapewniają wysoką przepustowość i ciągłą akwizycję – do stitchingu mikroskopowego, digitalizacji dziedzictwa, kartografii, kontroli półprzewodników i astronomii.

Kluczowe cechy

Sensory Sony Exmor (IMX811/411/461/455/410)
Rozdzielczość 24–251 MP, piksel 2,81–5,94 µm
Format full-frame / średni, mocowania M54/M72
Głębokie chłodzenie TEC (ΔT≈40°C) + antyroszenie
Interfejs 10GigE / USB 3.0, wbudowany bufor
Głębia 8/10/12/16-bit, ROI, binning, wyzwalanie i sync wielu kamer
SDK Windows/Linux/macOS, ToupView/ToupLite

Specyfikacja techniczna

Typ	wielkoformatowa sCMOS, chłodzona
Sensory	Sony Exmor (IMX811/411/461/455/410)
Rozdzielczość	24–251 MP
Rozmiar piksela	2,81–5,94 µm
Format	full-frame / format średni
Chłodzenie	głębokie TEC, ΔT≈40°C, antyroszeniowe
Interfejs	10GigE / USB 3.0
Głębia	8/10/12/16-bit
Mocowanie	M54 / M72
SDK	Windows/Linux/macOS; ToupView/ToupLite

Zastosowania

Stitching mikroskopowy i obrazowanie wielkopolowe
Digitalizacja dziedzictwa i obiektów naukowych
Kartografia / fotogrametria
Półprzewodniki – inspekcja
Astronomia

Zapytanie ofertowe i konfiguracja

Kamery naukowe ToupTek dobieramy do aplikacji – sensor, chłodzenie, interfejs i akcesoria. Skontaktuj się z Interlab, aby otrzymać wycenę i dobór modelu do Twojego zadania pomiarowego.