Silixa iDSS

  • Rozdzielczość <1 με — najdrobniejszy rozproszony pomiar odkształceń statycznych.
  • Pełny profil odkształceń w 0,1 s (10 Hz) — unikalne wśród czujników statycznych.
  • Pomiar absolutny na dystansie 50 km, na standardowych włóknach SM/MM.
  • Fuzja z DAS/DTS — rozdzielenie wpływu temperatury i odkształcenia.

Silixa iDSS™

Inteligentny rozproszony czujnik odkształceń statycznych (DSS) o mikroodkształceniowej rozdzielczości

Dlaczego warto wybrać system iDSS™?

iDSS™ to przełom w długoterminowym monitoringu konstrukcji i gruntu: absolutny pomiar odkształceń statycznych wzdłuż całego światłowodu, z najwyższą w swojej klasie rozdzielczością i unikalnie krótkim czasem pomiaru. Wybór tego systemu zapewnia:

  • Rozdzielczość poniżej 1 με: najdrobniejsze rozproszone pomiary odkształceń statycznych — system rejestruje zmiany niewykrywalne dla klasycznych metod geodezyjnych.
  • Pełny profil w 0,1 s: kompletny rozkład odkształceń wzdłuż całego włókna z każdym impulsem lasera — rejestracja do 10 Hz, unikalna w klasie czujników statycznych.
  • Pomiar absolutny: iDSS™ mierzy odkształcenie bezwzględne (nie tylko zmiany względem punktu startu), co upraszcza długoterminową analizę trendów i porównania między kampaniami pomiarowymi.
  • Zasięg powyżej 50 km: monitoring całych magistral (rurociągi, kable, nasypy) jednym urządzeniem; przy znanym profilu odkształceń możliwy także pomiar temperatury na ekstremalnych dystansach.
  • Fuzja danych z innymi czujnikami Silixa: wspólna praca z iDAS™/Carina (akustyka) oraz ULTIMA™ DTS/XT-DTS (temperatura) pozwala rozdzielić wpływ temperatury i odkształcenia — w komplecie 2 sondy Pt100 do korekcji temperaturowej.
  • Standardowe włókna SM i MM: praca na zwykłych kablach jednomodowych i wielomodowych, również na istniejącej infrastrukturze.

Charakterystyka techniczna:

Zasięg pomiarowy 50 km
Rozdzielczość odkształceń (0 km) 1 με
Rozdzielczość odkształceń (50 km) 25 με
Rozdzielczość przestrzenna 60 cm
Odstęp próbkowania 10 cm
Czas pomiaru 0,1 s (10 Hz)
Złącze pomiarowe E2000/APC (włókna SM i MM)
Rejestracja danych SSD RAID 4 TB, 2× 10 GbE SFP+, 2× PCIe x4
Obudowa / zasilanie rack 19″, 22,4 kg, 250 W (typ.)

Główne zastosowania:

  • Geotechnika: monitoring osiadania gruntu (szkody górnicze, niecki osiadania), stabilności zboczy i osuwisk.
  • Infrastruktura krytyczna: długoterminowy monitoring odkształceń rurociągów, nasypów kolejowych, tuneli, mostów i zapór.
  • Energetyka i offshore: szybkie, absolutne pomiary odkształceń riserów oraz kabli podmorskich.
  • Systemy hybrydowe: wspólna praca z DAS i DTS w jednej instalacji — komplementarny obraz odkształceń, akustyki i temperatury na tym samym włóknie.

Najczęstsze pytania (FAQ):

Czym iDSS™ różni się od systemów DAS (iDAS™, Carina)?
DAS rejestruje dynamiczne zdarzenia akustyczne i drgania (sygnały zmienne w czasie), natomiast iDSS™ mierzy statyczne, absolutne odkształcenie włókna — powolne procesy takie jak osiadanie, pełzanie zbocza czy ugięcie konstrukcji, które dla DAS są niewidoczne.

Czy iDSS™ może mierzyć temperaturę?
Tak — w środowisku o znanym profilu odkształceń iDSS™ może pełnić rolę czujnika temperatury, szczególnie na bardzo długich dystansach (z możliwością wydłużenia zasięgu przez zdalne wzmocnienie optyczne). Do typowych zadań temperaturowych rekomendowany pozostaje jednak DTS (ULTIMA™/XT-DTS™).

Jak system radzi sobie z rozdzieleniem temperatury i odkształcenia?
Równoczesna akwizycja iDSS™ + DTS firmy Silixa umożliwia optymalną korekcję temperaturową i dokładny, jednoczesny pomiar odkształceń i temperatury w środowisku, w którym oba czynniki zmieniają się w nieznany sposób. Urządzenie ma też 2 wejścia Pt100 do referencji temperaturowej.

Pobierz materiały kliknij aby rozwinąć

Karta techniczna (EN)

Zainteresowany produktem?

Skontaktuj się z nami, aby uzyskać szczegółową ofertę i doradztwo techniczne.

Podobne produkty

DSS – pomiar odkształceń (Brillouin, BOTDR/BOTDA)Systemy Monitoringu

Zapytaj o produkt

Produkt: Silixa iDSS