Reflektometr wysokiej rozdzielczości Yokogawa AQ7420

Precyzyjna kontrola jakości złączy i modułów optycznych

Reflektometr AQ7420 firmy Yokogawa to zaawansowane narzędzie zaprojektowane do dokładnej kontroli jakości złączy światłowodowych i modułów optycznych. Dzięki wyjątkowo wysokiej rozdzielczości przestrzennej, urządzenie precyzyjnie wykrywa lokalizację i mierzy wielkość odbić (refleksji) wewnątrz analizowanych komponentów.

Wykrywaj ukryte wady, zapobiegaj awariom

AQ7420 jest niezastąpiony w identyfikacji mikropęknięć i innych subtelnych defektów, które często pozostają niewykryte podczas standardowych pomiarów tłumienności. Wykrywanie tych ukrytych wad na wczesnym etapie jest kluczowe dla zapewnienia niezawodności systemów optycznych, zwłaszcza tych pracujących w wymagających warunkach (narażonych na ruch, wibracje, cykle termiczne). Pozwala to uniknąć nieprzewidzianych i kosztownych awarii w krytycznych infrastrukturach.

Wszechstronność i wiarygodność pomiarów

W połączeniu z opcjonalną głowicą pomiarową (Sensor Head AQ740023), reflektometr AQ7420 zyskuje możliwość jednoczesnego pomiaru tłumienności wtrąceniowej, co czyni go idealnym, wielofunkcyjnym przyrządem do kompleksowej inspekcji złączy i modułów. Wysoka czułość i wyjątkowo niski poziom szumów fantomowych (-100 dB) gwarantują wiarygodne wyniki i eliminują ryzyko błędnych detekcji (efektów „duchów”).

Kluczowe cechy:– Zasięg pomiarowy: 100 mm (ok. 4 cale) – idealny do analizy złączy i wnętrza modułów.- Wysoka rozdzielczość przestrzenna: 40 µm – umożliwia precyzyjne lokalizowanie odbić.- Niski poziom szumów fantomowych: -100 dB – zapewnia wiarygodne pomiary bez fałszywych sygnałów.- Szeroki zakres pomiaru odbicia: od -14.7 dB do -100 dB (w zależności od trybu).- Jednoczesny pomiar wielokrotnych odbić i tłumienności wtrąceniowej (wymagana opcjonalna głowica pomiarowa AQ740023).- Szybki pomiar: ok. 6 sekund.

Zastosowania:

Wykrywanie mikropęknięć w złączach optycznych stosowanych w:– Centrach danych (Datacenters)- Podmorskich systemach światłowodowych- Wieżach telefonii komórkowej (FTTA – Fiber To The Antenna)- Systemach satelitarnych

Precyzyjna lokalizacja i pomiar intensywności wewnętrznych odbić w urządzeniach optycznych, takich jak:– Komponenty fotoniki krzemowej (Silicon Photonics)- Moduły nadawczo-odbiorcze TOSA/ROSA

Yokogawa AQ7420 to niezbędne narzędzie dla producentów komponentów optycznych, integratorów systemów oraz zespołów kontroli jakości, którzy wymagają najwyższej precyzji i niezawodności w inspekcji połączeń światłowodowych.

Pobierz materiały kliknij aby rozwinąć

Zainteresowany produktem?

Skontaktuj się z nami, aby uzyskać szczegółową ofertę i doradztwo techniczne.

Podobne produkty

Fotonika i R&DReflektometry (OBR, POF …)

Fotonika i R&DReflektometry (OBR, POF …)

Fotonika i R&DReflektometry (OBR, POF …)

Fotonika i R&DReflektometry (OBR, POF …)

Zapytaj o produkt

Produkt: Reflektometr wysokiej rozdzielczości Yokogawa AQ7420