ODiSI 6100

Nowy, wielokanałowy system akwizycji danych. OSiSI 6100 może zostać zintegrowana z większymi platformami do zarządzania testami, które zbierają dane dotyczące odkształceń i temperatury podczas testów krytycznych.

Wielokanałowe pomiary odkształceń (do 200 000 miejsc pomiarowych)
Elastyczne, lekkie i łatwe w montażu czujniki
Pasywne, odporne na korozję, dielektryczne oraz elastyczne czujniki docierają tam, gdzie inne nie mogą
Długa żywotność czujnika
Duży zakres odkształceń i wysoka rozdzielczość

Kluczowe cechy:

-Wielokanałowe pomiary odkształceń (do 200 000 miejsc pomiarowych)
-Elastyczne, lekkie i łatwe w montażu czujniki
-Pasywne, odporne na korozję, dielektryczne oraz elastyczne czujniki docierają tam, gdzie inne nie mogą – w zakrętach, na rogach, wbudowane w materiały
-Długa żywotność czujnika – nie jest wymagane żadne dryfowanie ani ponowna kalibracja, liczba cykli> 10⁷
-Duży zakres odkształceń i wysoka rozdzielczość

Fukkcje konfiguracji:

PAMIĘĆ W CZASIE RZECZYWISTYM:

-Przesyłaj pomiary w czasie rzeczywistym z maksymalną szybkością pomiaru do pliku lub przez TCP-IP na inny komputer

ŁATWOŚĆ INTEGRACJI / ŁATWOŚCI UŻYTKOWANIA:

-Intuicyjny, łatwy w konfiguracji i obsłudze graficzny interfejs użytkownika
-Synchronizacja IEEE 1588 PTP (Precision Time Protocol)
-Dane strumieniowe przesyłane w oparciu o bazę Json
-Zsynchronizowany wyjściowy impuls TTL

NIEZAWODNOŚĆ:

– Ciągłe automatyczne wyrównanie optyczne bez interwencji użytkownika
– Kontrola stanu systemu i czujnika zapewnia wysoką dokładność danych

ZDOLNOŚĆ ŚLEDZENIA:

-Częstotliwości optyczne sprawdzane za każdym razem w celu uzyskania dokładnych pomiarów
– Czujniki odkształceń i powiązane z nimi współczynniki, skalibrowane za pomocą urządzeń śledzących NIST

WIZUALIZACJA OPROGRAMOWANIA 3D:

– Łatwe do zinterpretowania i przekazywania złożone dane
– Wizualizuj duże pliki danych za pomocą mapowania konturowego i 3D
– Szybko koncentruje się na krytycznych obszarach przestrzennych i/lub czasowych
– Wizualizuj i udostępniaj dane ODiSI zmapowane na zaimportowanych plikach .stf