Luna OVA 5000

Analizator wektorowy bazujący na rzeczywistym pomiarze kompletnej macierzy Jones’a (Jones Matrix Elements measurement). Instrument do szybkiej i pracyzyjne charakteryzacji elementów optycznych i światłowodowych.

Pomiar kompletnej macierzy Jones’a
Szybka i precyzyjna charakteryzacja elementów optycznych i światłowodowych
Metoda interferometryczna z przemiataniem długości fali (Swept-wavelength Interferometry)
Kompleksowa charakterystyka: PDL, faza, GD, CD, PMD
Pomiar w mniej niż 3 sekundy

LUNA OVA 5000

Wykorzystuje metodę interferometryczną z przemiataniem długości fali (Swept-wavelength Interferometry) w celu charakteryzacji elementów pasywnych generujących straty, strat polaryzacyjnych (PDL-Polarization dependend loss), fazę, opóźnienie grupowe, dyspersję chromatyczną, dyspersję polaryzacyjną. Przez pomiar trwający mniej niż 3sekundy.

LUNA (OVA) to jedyne urządzenie na rynku będące w stanie dokonać całkowitego i pełnego pomiaru jednomodowych komponentów optycznych wykonując tylko jeden skan. OVA zapewnia kompleksową charakterystykę zawierającą wszystkie elementy tj. kompensacja dyspersji, AWG, siatki Bragga oraz wiele innych przyrządów optycznych.