interlab@interlab.pl
Interlab|OptoSigma
Obiektyw na podczerwień (NIR) — zdjęcie produktu, nr katalogowy PAL-100-NIR-A

SKU: PAL-100-NIR-A

Obiektyw na podczerwień (NIR)

Infrared (NIR) Objective Lens

◦Dzięki dużej odległości roboczej i korekcji krzywizny pola, naturalny obraz obserwacyjny uzyskiwany jest aż do brzegów pola widzenia. ◦Funkcja korekcji na nieskończoność przy dużej odległości roboczej umożliwia wprowadzenie układu laserowego oraz obserwację współosiową. ◦Stosowany jest również do obserwacji w podczerwieni. ◦Modele PAL-20-NIR-LC00/PAL-20-NIR-HR-LC00/PAL-50-NIR-HR-LC00 zawierają zespół szkiełka ochronnego (t=1.8mm). Szkiełko ochronne chroni obiektyw przed odpryskami i zanieczyszczeniami powstającymi podczas obróbki laserowej. Zespół szkiełka ochronnego można wymienić. ◦Te obiektywy mogą być stosowane z laserem impulsowym światła widzialnego, np. 532nm. Próg zniszczenia każdej soczewki wynosi 0.1J/cm 2 przy 532nm i 0.2J/cm 2 przy 1064nm (wartość referencyjna). (Szerokość impulsu lasera 10nSec, częstotliwość powtarzania 20Hz)

Specyfikacja

Masa0.35 kg
Dostępne powłoki standardoweNie
Informacja dodatkowaDostępny jest stały uchwyt obiektywu (LHO-26). W przypadku mocowania obiektywu w uchwycie 2-osiowym prosimy o kontakt z naszym działem handlowym. Do obróbki laserowej oferujemy blok dichroiczny (DIMC) oraz moduł laserowy ze współosiowym oświetleniem i obserwacją (OUCI-2).
UwagaPrzy zastosowaniu obiektywu do obróbki laserowej należy tak dobrać średnicę wiązki padającej, aby rozszerzała się do rozmiaru połowy średnicy źrenicy (1/e 2). Zbyt wąska wiązka padająca uniemożliwia uzyskanie małej plamki świetlnej. Należy pamiętać, że wzrost gęstości energii lasera znacząco zwiększa ryzyko uszkodzenia obiektywu. Powierzchnia obiektywu może ulec zanieczyszczeniu przez zanieczyszczenia powstające podczas obróbki. Aby tego uniknąć, należy zapewnić odpowiednią odległość roboczą (WD) i umieścić na obiektywie cienkie szkło ochronne. Jeśli czas trwania impulsu lasera femtosekundowego jest poniżej 100fs, istnieje możliwość poszerzenia szerokości impulsu. Powiększenie podane jest dla przypadku zastosowania soczewki obrazującej o ogniskowej f=200mm. Przy zastosowaniu w tubusie mikroskopu innych producentów powiększenie może być inne. Rzeczywiste powiększenie należy obliczyć na podstawie stosunku ogniskowej obiektywu do ogniskowej soczewki obrazującej, aby zweryfikować ogniskową stosowanego tubusu. Modele PAL-20-NIR-HR-LC00/PAL-50-NIR-HR-LC00 zaprojektowano z uwzględnieniem grubości elementu wraz ze szkłem ochronnym. W przypadku usunięcia szkła ochronnego przez użytkownika obiektyw nie będzie spełniał podanych parametrów.
Ogniskowa2mm
Powiększenie100×
Apertura numeryczna0.53
Odległość robocza WD12.1mm
Rozdzielczość0.52µm
Głębia ostrości±1µm
Średnica źrenicyφ2.12mm
Rzeczywiste pole widzenia (okular φ24 mm)φ0.24mm
Rzeczywiste pole widzenia (detektor 1/2″)0.05×0.06mm
Próg uszkodzenia laserowego0.2J/cm² at 1064nm
Zobacz listę zapytań

Podobne produkty

Obiektywy M Plan Apo 10X, szerokie pole widzenia, wysoka NA, do SWIR (900-1700nm) (PAL-10-SWIR-HRWF)

PAL-10-SWIR-HRWF

Obiektywy M Plan Apo 10X, szerokie pole widzenia, wysoka NA, do SWIR (900-1700nm)

Masa: 0.72 kg

Dostępne powłoki standardowe: Nie

Informacja dodatkowa: Przy oświetleniu koncentrycznym może wystąpić problem odblasków (flary). Można go ograniczyć, montując na końcówce obiektywu dedykowaną płytkę falową (WP-SWIR1(2.5X), WP-SWIR2(2.5X)) oraz wstawiając filtr polaryzacyjny w tubusie obserwacyjnym (OUCI-SWIR-HRWF).

Obiektywy M Plan Apo 1X, szerokie pole widzenia, wysoka NA, do SWIR (900-1700nm) (PAL-1-SWIR-HRWF)

PAL-1-SWIR-HRWF

Obiektywy M Plan Apo 1X, szerokie pole widzenia, wysoka NA, do SWIR (900-1700nm)

Masa: 0.65 kg

Dostępne powłoki standardowe: Nie

Informacja dodatkowa: Przy oświetleniu koncentrycznym może wystąpić problem odblasków (flary). Można go ograniczyć, montując na końcówce obiektywu dedykowaną płytkę falową (WP-SWIR1(2.5X), WP-SWIR2(2.5X)) oraz wstawiając filtr polaryzacyjny w tubusie obserwacyjnym (OUCI-SWIR-HRWF).

Obiektywy M Plan Apo 2.5X, szerokie pole widzenia, wysoka NA, do SWIR (900-1700nm) (PAL-2.5-SWIR-HRWF)

PAL-2.5-SWIR-HRWF

Obiektywy M Plan Apo 2.5X, szerokie pole widzenia, wysoka NA, do SWIR (900-1700nm)

Masa: 0.53 kg

Dostępne powłoki standardowe: Nie

Informacja dodatkowa: Przy oświetleniu koncentrycznym może wystąpić problem odblasków (flary). Można go ograniczyć, montując na końcówce obiektywu dedykowaną płytkę falową (WP-SWIR1(2.5X), WP-SWIR2(2.5X)) oraz wstawiając filtr polaryzacyjny w tubusie obserwacyjnym (OUCI-SWIR-HRWF).

Obiektywy M Plan Apo 5X, szerokie pole widzenia, wysoka NA, do SWIR (900-1700nm) (PAL-5-SWIR-HRWF)

PAL-5-SWIR-HRWF

Obiektywy M Plan Apo 5X, szerokie pole widzenia, wysoka NA, do SWIR (900-1700nm)

Masa: 0.6 kg

Dostępne powłoki standardowe: Nie

Informacja dodatkowa: Przy oświetleniu koncentrycznym może wystąpić problem odblasków (flary). Można go ograniczyć, montując na końcówce obiektywu dedykowaną płytkę falową (WP-SWIR1(2.5X), WP-SWIR2(2.5X)) oraz wstawiając filtr polaryzacyjny w tubusie obserwacyjnym (OUCI-SWIR-HRWF).

Adapter soczewki obiektywowej (C-OAD-30)

C-OAD-30

Adapter soczewki obiektywowej

Szkiełko ochronne do obiektywów na podczerwień (NIR) (PAL-NIR-PG)

PAL-NIR-PG

Szkiełko ochronne do obiektywów na podczerwień (NIR)

Masa: 0.007 kg

Informacja dodatkowa: Zamienne szkło ochronne wyłącznie do modeli PAL-20-NIR-HR-LC00 i PAL-50-NIR-HR-LC00.

Uwaga: Produktu należy używać wyłącznie z modelami wskazanymi jako zgodne.